某公司是硬盤生產(chǎn)的高科技企業(yè)，產(chǎn)品就是電腦中記錄數(shù)據(jù)的硬盤。硬盤組裝過程是在高度凈化的生產(chǎn)車間,組件要有磁頭、磁碟、上下磁鐵、過濾器、馬達(dá)組件和底座、蓋板和一些螺絲組成。磁碟的表面損傷缺陷是一個十分關(guān)鍵的問題，表面是否有劃傷及嚴(yán)重程度直接決定了該盤片的存儲密度和范圍及是否能達(dá)到設(shè)計(jì)容量的要求。嚴(yán)重的表面損傷將會因?yàn)椴环弦蠖А４鎯橘|(zhì)必須更換，報(bào)傷的介質(zhì)要求直接報(bào)廢。這樣無形中就增加了報(bào)廢，拆卸。重新組裝等的成本，企業(yè)的凈利潤下降。天行健管理顧問主要針對目前某公司中的某產(chǎn)品由于磁碟表面損傷引起的失效問題，在運(yùn)用以前其他的質(zhì)量管理方法不能完全解決這一失效的質(zhì)量難題的情況下，打破一般方法只著眼與局部或表面的現(xiàn)象的常規(guī)，對劃傷的問題運(yùn)用六西格瑪管理定義、測量，分析測量結(jié)果并對潛在的根本性原因進(jìn)行分析和改善。

1、某產(chǎn)品由于磁碟表面損傷引起的失效問題，在運(yùn)用以前其他的質(zhì)量管理方法不能完全解決這一失效的質(zhì)量難題。

2、對磁碟局部或表面現(xiàn)象的常規(guī)，劃傷問題的定義、測量，分析測量結(jié)果并對潛在的根本性原因進(jìn)行分析。

2、運(yùn)用六西格瑪DMAIC的方法進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量改善的系統(tǒng)研究及改進(jìn)分析，找到關(guān)鍵因素實(shí)施改進(jìn)并應(yīng)用到實(shí)際生產(chǎn)過程中。

3、將過程整改情況進(jìn)行總結(jié)，對取得的效益進(jìn)行評估并最終形成控制的相關(guān)文檔，使項(xiàng)目的成果能保持下去，同時也給其他項(xiàng)目的研究做出一個樣板。

4、將磁碟表面損傷引起的缺陷率降到1.7%，提高磁碟合格率和成品率。

一、六西格瑪簡介

六西格瑪誕生于20世紀(jì)80年代的美國摩托羅拉公司，當(dāng)時日本產(chǎn)品憑借著高質(zhì)量、低成本橫掃全球，面對這種威脅，摩托羅拉逐步在公司內(nèi)部形成了一套系統(tǒng)化的質(zhì)量改進(jìn)方案——六西格E六西格瑪所帶來的收益累計(jì)高達(dá)140億美元。1988年榮膺極負(fù)盛名的第一屆“波多里奇美國國家質(zhì)量獎”。聯(lián)合信號公司的拉里博西迪在1992年將六西格瑪引入聯(lián)合信號公司，并將大量的關(guān)于組織變革和領(lǐng)導(dǎo)力提升，變革企業(yè)文化的內(nèi)容補(bǔ)充到六西格瑪方法中，改變了企業(yè)的經(jīng)營和運(yùn)作方式，連續(xù)31個季度每股利潤13%的增長，股價(jià)漲了8倍。通用電氣公司的首席執(zhí)行官杰克?韋爾奇，開始以其雄厚的財(cái)力不斷投入巨資在全公司范圍內(nèi)推廣六西格瑪，并將它作為公司戰(zhàn)略的一部分來實(shí)施。結(jié)果使通用電氣的股票市值增長到了4500億美元，增長了30多倍，公司排名從世界第十位提升到了第二位。為此，GE連續(xù)兩年獲得了《財(cái)富雜志》評選的全美及全球最佳公司。

同樣，六西格瑪管理在聯(lián)信、ABB,東芝、三星等企業(yè)組織中也獲得巨大成功，甚至一些服務(wù)領(lǐng)域的組織如花旗銀行、迪斯尼、希爾頓酒店等，也通過引入六西格瑪管理，給顧客和股東帶來極大的收益。

六西格瑪隨著外資的引進(jìn)也已在中國這塊文明之地悄然播種，我國于2001年12月11日正式加入世界貿(mào)易組織(WTO)，六西格瑪水平已成為衡量一個國家綜合實(shí)力與競爭力的最有效的指標(biāo)，優(yōu)秀的中國企業(yè)家看到了六西格瑪?shù)木薮罅α浚_始嘗試導(dǎo)入六西格瑪。為了進(jìn)一步提高國內(nèi)產(chǎn)品與服務(wù)的質(zhì)量，跟上國際步伐，國內(nèi)企業(yè)推行六西格瑪管理成為必然趨勢。

二、項(xiàng)目定義

磁碟表面損傷引起的失效問題主要是因?yàn)椋c磁碟局部表面接觸的組件接觸面或點(diǎn)有細(xì)小的硬質(zhì)顆粒或突起，以及沒有處理和消除的細(xì)小毛刺。這些顆粒或突起在磁碟的旋轉(zhuǎn)過程中就會在磁碟表面形成不可修復(fù)的損傷而導(dǎo)致磁碟的單面或雙面的報(bào)廢。

這些損傷一方面影響磁盤的格式化和容量的計(jì)算，也就是最終可能這片磁碟達(dá)不到設(shè)計(jì)的容量，只能降級做成低容量的硬盤。

嚴(yán)重的必須更換磁碟，損傷的磁碟直接報(bào)廢，不可修復(fù)或回用。尤其是在多碟硬盤中這種缺陷更為明顯，多碟的硬盤畢竟多了磁碟，磁頭，還多了墊片。此項(xiàng)目需重點(diǎn)找出影響這個磁碟表面損傷引起的失效問題的關(guān)鍵因素并加以改進(jìn)和消除，是缺陷率能夠達(dá)到項(xiàng)目要求的目標(biāo)。以往最低的缺陷率為1.4%，基線是2.4%，我們的目標(biāo)是磁碟表面損傷引起的缺陷率降到1.7%。

三、項(xiàng)目測量

測量(Measure)階段既是定義階段(Define)的后續(xù)活動，也是連接分析階段(Analyze)的橋梁，是事實(shí)和數(shù)據(jù)驅(qū)動管理的具體體現(xiàn)，是DMAIC過程的第二階段。任何過程的輸入與輸出關(guān)系均可表達(dá)為:Y=f(x)，式中，Y為過程的輸出結(jié)果；對于任何給定的產(chǎn)品或程序，都存在輸入、過程和輸出三個環(huán)節(jié)。項(xiàng)目Y是我們測定客戶CTQ的方法。x為影響Y的過程輸入。正是那些關(guān)鍵的輸入變量x決定了輸出變量Y。六西格瑪項(xiàng)目的實(shí)施過程，就是不斷地揭示兩者之間關(guān)系的過程。測量階段的工作重點(diǎn)是在界定階段工作的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步明Y的測量，并通過收集x和Y的測量數(shù)，定量化地描述Y，認(rèn)識Y的波動規(guī)律，揭示過程改進(jìn)的機(jī)會，識別可能的途徑和改進(jìn)方向來實(shí)現(xiàn)改善目標(biāo)。

1、硬盤測試

硬盤測試過程中會有專門針對磁碟表面損傷的信號測試，在經(jīng)過項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)的會議討論，針對硬盤生產(chǎn)過程的具體流程進(jìn)行分析，運(yùn)用魚骨圖，因果效應(yīng)圖和失效分析工具，將大家認(rèn)為對可能形成損傷問題的原因全部列了出來，并對這些因素進(jìn)行了權(quán)重打分，初步選出幾條對表面質(zhì)量有明顯影響的因素。

為了使尋找因素更準(zhǔn)確，又對這些因素進(jìn)行了失效模式分析。通過對影響因素進(jìn)行權(quán)重打分，根據(jù)發(fā)生可能及幾率，選出了磁頭來料問題，流水線影響，馬達(dá)原料問題，墊片來料問題，墊片回收循環(huán)使用等五項(xiàng)影響因素，將這五個因素作為下步項(xiàng)目研究的重點(diǎn)。

2、測量系統(tǒng)分析

選定28個硬盤做好標(biāo)記，其中12個來源于其他的失效，13個是成品，5個是首次測試有問題的，但重新測試通過的硬盤來對這個測試系統(tǒng)進(jìn)行attributeGageR&R分析。除由于生產(chǎn)線硬盤流量大，跟蹤不到位2個硬盤沒有及時得到結(jié)果外，其他的硬盤測試結(jié)果得出，把通過和失效的結(jié)果輸入Minitab顯示測量系統(tǒng)有效性大于80%，故測量系統(tǒng)有效。

四、根本原因分析及改進(jìn)

項(xiàng)目小組依據(jù)前面FMEA的結(jié)果，對得到的幾個關(guān)鍵因子進(jìn)行了假設(shè)檢驗(yàn)（a=0.05；=0.01），證實(shí)只有磁頭堆的來料問題，流水線影響，馬達(dá)原料問題都不是關(guān)鍵因素。而墊片的來料問題和墊片循環(huán)使用是針對磁碟損傷的關(guān)鍵原因。

1、針對墊片全新來料的假設(shè)檢驗(yàn)

選取DUFU和Global兩家供應(yīng)商，DUFU檢取的樣本數(shù)是2382個，其中有磁碟損傷相關(guān)的失效數(shù)84個，Global檢測數(shù)是2744個，碟損傷相關(guān)的失效數(shù)20個。假設(shè)檢驗(yàn)顯示P-Value=0<0.05，證明墊片是關(guān)鍵原因，必須馬上暫停領(lǐng)用DUFU的全新來料并要求供應(yīng)商提供改進(jìn)措施。

2、針對回用墊片有做的實(shí)驗(yàn)

設(shè)3個樣本組，組一選取Global全新墊片，樣本數(shù)1198個，最后測試出來有損傷異常21片；組二選取100%回用墊片970個，測試結(jié)果是損傷相關(guān)的失效數(shù)28個；組三選取的是在10倍顯微鏡100%檢查通過的回用墊片500個，測試結(jié)果是沒有相關(guān)的失效。假設(shè)檢驗(yàn)結(jié)果是P-Value<0.05三組之間存在明顯差異，回用墊片是一個關(guān)鍵因素。要想減少這些相關(guān)的失效必須馬上針對回用墊片提供改進(jìn)措施。下回用墊片表面損傷顯微鏡下反而比全新的來料輕微。

3、針對關(guān)鍵原因的改進(jìn)

①倉庫中的全新來料，要求供應(yīng)商拉回進(jìn)行刪選，剔除毛刺的或損傷的墊片。10倍放大鏡后30倍放大鏡確認(rèn)；對于沒有出貨的墊片按新標(biāo)準(zhǔn)出貨:10倍放大鏡后30倍放大鏡確認(rèn)。

②更改圖紙，將墊片邊緣的倒角由45度改為圓弧倒角，并通知到供應(yīng)商確認(rèn)圖紙更改。

③對于工廠內(nèi)部己經(jīng)領(lǐng)用的墊片，對于出現(xiàn)損傷失效相關(guān)的問題產(chǎn)品，拆開后墊片報(bào)廢，不再回用。生產(chǎn)線上其他的墊片回用必須按新的標(biāo)準(zhǔn)來檢查確認(rèn)。

這些改進(jìn)的措施是要落實(shí)到實(shí)際生產(chǎn)中并經(jīng)過長達(dá)幾周的試驗(yàn)和跟蹤后，對改進(jìn)結(jié)果進(jìn)行了分析，我們才能確認(rèn)措施有效。這種改進(jìn)分析的結(jié)論不僅需要大量數(shù)據(jù)的支持，而且數(shù)據(jù)需要經(jīng)過整理，并需要排除異常數(shù)據(jù)。幸運(yùn)的是公司就是做電子產(chǎn)品的，對每個工序甚至工位都有針對生產(chǎn)數(shù)據(jù)的收集，大大方便項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)。

五、針對關(guān)鍵因素控制

1、更新FMEA在項(xiàng)目完成后，要對FMEA更新相關(guān)的條目。

2、對新標(biāo)準(zhǔn)形成文檔在對生產(chǎn)線的產(chǎn)品FMEA更新的同時，要對生產(chǎn)線的控制計(jì)劃進(jìn)行的更改。

六、效益評價(jià)

磁碟的表面損傷將會導(dǎo)致產(chǎn)品的合格率和成品率下降，是產(chǎn)品生產(chǎn)的一個重要指標(biāo)。天行健管理顧問將磁碟的表面損傷缺陷率定為作為一個六西格瑪黑帶項(xiàng)目，運(yùn)用六西格瑪DMAIC流程，通過對磁碟表面質(zhì)量問題的界定、測量、針對測量結(jié)果對根本性原因進(jìn)行分析，然后，從損傷的具體位置形態(tài)入手進(jìn)行分析研究，將導(dǎo)致?lián)p傷的潛在關(guān)鍵因素逐一進(jìn)行假設(shè)檢驗(yàn)，確認(rèn)了墊片DUFU全新物料和生產(chǎn)線回用墊片兩個關(guān)鍵因素，在實(shí)際生產(chǎn)過程中，通過對這兩個關(guān)鍵原因進(jìn)行控制，收到了良好的效果，損傷缺陷率顯著下降，達(dá)到了項(xiàng)目的目標(biāo)。

1、部件報(bào)廢率得到有效控制，表面質(zhì)量大為提升，缺陷率明顯下降，成品率得到了提高。

2、經(jīng)過對關(guān)鍵指標(biāo)進(jìn)行控制，在接下來得生產(chǎn)中，關(guān)于磁碟損傷相關(guān)的失效下降到一個最低的水平。

3、磁碟表面損傷缺陷率的趨勢圖和常量跟蹤。可以看到缺陷率進(jìn)過改進(jìn)措施的貫徹，不斷地降低，最后維持在0.5%左右。

4、由于磁碟表面損傷缺陷率1.9%，相應(yīng)的因表面缺陷導(dǎo)致的部件報(bào)廢也同樣降低1.9%取得效益:產(chǎn)量x項(xiàng)目改善的缺陷率1.9%價(jià)格，其中的價(jià)格必須包含墊片和磁碟兩部分3.5+56=59.5元，同時要包含生產(chǎn)成本8元，總計(jì)67.5元，產(chǎn)量我們?nèi)≈芷骄鶖?shù)150K,即：150000×1.9%×69.5=19807.5元周。

5、確認(rèn)了墊片DUFU全新物料和生產(chǎn)線回用墊片兩個關(guān)鍵因素，在實(shí)際生產(chǎn)過程中，對這兩個關(guān)鍵原因進(jìn)行控制，收到了良好的效果，損傷缺陷率顯著下降，達(dá)到了項(xiàng)目的目標(biāo)。