一般來說，當(dāng)組內(nèi)樣本量大于S時(shí)，應(yīng)采用X-S圖；當(dāng)組內(nèi)樣本量小于S時(shí)，可以使用上一篇文章介紹的X-R圖(均值-極差控制圖)。
使用Minitab軟件可以自動(dòng)生成X-S圖，并可以形成應(yīng)用菜單。基本步驟如下:
依次點(diǎn)擊Stat >控制圖> Xbar-S，進(jìn)入對(duì)話框，跨選項(xiàng)行選擇子組，在左側(cè)可選框中選擇變量名點(diǎn)，點(diǎn)擊可選框下方的選擇鍵，將待分析變量選擇到框中；選擇變量后，點(diǎn)擊右上角的Fests鍵進(jìn)入測(cè)試界面。這里是對(duì)控制圖中的每個(gè)點(diǎn)進(jìn)行區(qū)分檢查的地方。我們選擇Perform all 8 Tests選項(xiàng)，單擊OK退出測(cè)試界面，然后單擊OK完成Xhar-S圖。
其中，CLX和CLS分別是X和S圖的中心線，UCLX和LCLX，UCLS和LCLS玩分別是X和S圖的控制上限和控制下限。A1，B3和B4。是與樣本大小相關(guān)的常數(shù)(見下表)。
以上一篇文章改進(jìn)后的數(shù)據(jù)為例，作X-S圖。
首先看S圖。圖中各子群的標(biāo)準(zhǔn)差圍繞S圖的中心線無(wú)規(guī)律隨機(jī)變化，表明過程處于穩(wěn)定狀態(tài)。X圖和上一篇文章的X-R圖中的X圖一樣。從圖中可以看出，沒有異常點(diǎn)落在控制極限之外。但由于過程能力指數(shù)仍不符合要求，此控制圖只能用于分析，不能用于控制。
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