缺陷數控制圖(也稱C圖)是一種計數型數據控制圖，其目的是通過對缺陷數量的監控來控制產品上的缺陷或瑕疵數量，控制產品的質量。c控制圖單獨使用，不需要與其他圖表結合使用。C控制圖的特點是各組樣本量相等，由于各組樣本量相等，便于計算。
Minitab軟件可以生成C圖，可以形成應用菜單。基本步驟如下:
選擇Stat > Cuntrol Charts > C，進入C圖畫面。此時，在變量對話框中填入要分析的變量；選擇變量后，點擊右上角的測試鍵，進入測試界面。這里是對控制圖中的每個點進行區分檢查的地方。我們選Perform all four tests選項，點擊OK鍵，退出Tests界面，再點擊OK鍵，完成C圖。
其中，CL為C圖的中心線，UCL和LCL分別為C圖的上下控制限。
產品上缺陷數常服從泊松分布(Poisson distribution)，由泊松分布的性質可以得出產品缺陷數的均值等于μ，標準差等于
。其中，當樣本足夠大時可以用樣本值近似代替，得μ≈c，
。
在實際應用中，人們一般只關注不合格品數量的控制上限和中心線。當缺陷數量超過控制上限時，應采取措施穩定產品質量。
示例:
某型號顯像管分30組檢查，每組3根顯像管，缺陷數量如下表所示:
從圖中可以看出，C=6.767，即每3個顯像管有6.767個缺陷。控制上限為14.57，第21組每3個產品的缺陷數超過控制上限16次。總的來說，平均每個顯像管有2.256個缺陷，缺陷數量比較多。因此，應提高工藝水平，提高產品的平均檔次。
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